以Mist-CVD開發出電力損失極小之氧化鎵電力元件

 

刊登日期:2016/9/20
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傳統的化學氣相沉積法(Chemical Vapor Deposition;CVD)是在真空狀態下藉反應氣體間的化學反應產生所需要的薄膜,但大面積化有其困難,花費成本大也是問題點之一。相對於CVD,霧化化學氣相沉積法(Mist Chemical Vapor Deposition;Mist-CVD)是將液體霧化之後再應用至成膜製程上。由於原料為液體,原料的選擇性大幅提高,不需真空處理亦使得大面積化變得可行,有助於降低成本支出。
 
霧化化學氣相沉積法的應用範疇之一即氧化鎵(Gallium Oxide)半導體。雖然被認為將取代矽的次世代電力元件-碳化矽(Silicon Carbide;SiC)、氮化鎵(Gallium Nitride;GaN)等的技術開發不斷演進,但日本 FLOSFIA 公司開發出能隙(Band Gap) 4.9 ~ 5.3eV(矽1.1 eV),低損耗性指標「Baliga性能指數」3444以上(GaN 870),電力損失極小的氧化鎵,並成功開發出世界最小導通電阻 0.1mΩ・cm2 的二極體(Diode)。相較於 SiC 二極體(0.7 mΩ・cm2),可降低 86% 的導通電阻。小型化亦使得封裝面積縮小,生產成本、設備投資等都可望相對降低。
 
此外,去年10月 FLOSFIA 在分離式元件(Discrete Devices)的開發亦已大有進展,今年 10月起將展開有價樣品的販售,並預計在 2018年建立完成量產體制。


資料來源: 化學工業日報 / 材料世界網編譯
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